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更强大的电子自旋现象被发现,有望为下一代存储技术铺路

东京工业大学(Tokyo Tech)的科学家们报告了一种新的材料组合,它为基于自旋的磁性随机存取存储器(RAM)奠定了基础。这项创新可能会让目前的存储设备取得巨大进步。

自旋是电子的固有属性。在一项新研究中,他们提出了一种使用拓扑材料中相关电子自旋现象的新策略,这可能推动自旋电子学领域的多项进展。此外,这项研究还进一步探索了自旋现象的基本机制。

自旋电子学是一个新兴的领域,它主要涉及电子的自旋和电子角动量。事实上,现代电子技术中广泛使用的磁性材料,就是因为电子自旋阵列使其具有了奇特特性。研究人员一直试图操纵某些材料的自旋相关特性,特别是用于非易失性存储器的材料。磁性非易失性存储器 (MRAM) 在功耗和速度方面有超越当前半导体存储器技术的潜力。

图 | 拓扑绝缘体 (TI) 材料的自旋注入会逆转铁磁 (FM) 材料的磁化,这就是 “写” 操作。此外,自旋注入还可以改变材料的整体电阻,所以外部电路可以感知这些电阻,这就是 “读”操作(来源:应用物理学杂志)

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